Citation Hunt

Bestenliste

Das unten stehende Wikipedia-Snippet wird von keiner verlässlichen Quelle unterstützt. Kannst du eine finden?

Klicke auf Verstanden!, um zu Wikipedia zu gehen und das Snippet zu reparieren, oder Nächstes!, um ein anderes zu sehen. Viel Glück!

In Seite Leiterplatte:

"

Beim Durchgangstest wird die Leiterplatte auf fehlerhafte und fehlende Verbindungen getestet. Diese Unterbrechungen können durch mechanische Beschädigungen oder durch Filmfehler beim Belichten entstehen.

Durch Schmutz auf den Kontaktierstellen können die Messungen ein hochohmiges Ergebnis zeigen. Mögliche Verschmutzungen sind: Staub, Fräsrückstände oder Oxidation auf der Kontaktierfläche. Durch ein erneutes Kontaktieren (Retest) können diese Phantomfehler (Fehler, die nicht existieren) oft ausgeschlossen werden.

Die Messresultate werden bei zweipoliger Messung produktspezifisch z. B. folgendermaßen klassifiziert:

(Messschwellen sind teilespezifisch zu definieren)

  • Messung < 10 Ω → Gute Verbindung
  • Messung > 10 Ω → Hochohmige Verbindung
  • Messung > 2 MΩ → Unterbrechung

Für Messungen von Verbindungen oder Widerständen unter 10 Ω muss oft eine Vierleitermessung eingesetzt werden, dadurch verfälschen die Kabel- und Kontaktwiderstände das Messresultat nicht.